English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(550)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(637)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(90)
Новости Rohde & Schwarz(532)
Новости Tektronix(217)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(116)
Новости Росстандарта(144)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Measurement Science Conference (MSC) 2010

Measurement Science Conference (MSC) 2010

18.02.2010

Конференция «Глобальная Метрология: Экономика и Технология» посвящена тематике контрольно-измерительных испытаний, метрологии и калибровки.


Более подробную информацию о выставке можно узнать на сайте: www.msc-conf.com


Дата открытия:  22.03.2010
Дата закрытия:  26.03.2010
Место проведения:  Пасадена, Калифорния, США

Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2020
КИПиС 2020 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
09.03.1900
Родился американский математик, создатель первых электромеханических вычислительных машин
Выставки