EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Метрология–2008

01.02.2008

Приглашаем предприятия и организации принять участие в 4-ой Международной специализированной выставке-конкурсе средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования «Метрология–2008», которая пройдет с 03 по 05 июня 2008 года на территории ВВЦ и традиционно приурочена к Международному Дню Метрологии.

Организатором мероприятия является Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии при содействии Департамента оборонной промышленности и высоких технологий Правительства Российской Федерации. Работа оргкомитета выставки пройдет под председательством заместителя Руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии Крутикова В.Н.

Необходимо отметить, что большой спектр компаний-участников и широкая номенклатура средств измерений, представленных на выставке в 2007 году, свидетельствует о набирающем темпе роста влияния метрологической отрасли на все сферы и направления хозяйственной деятельности. В работе выставки «Метрология–2007» приняли участие более 120 российских и иностранных компаний, зарегистрировано 12820 посетителей из 4117 организаций.
На выставке «Метрология–2008» будут представлены развернутые коллективные экспозиции: региональных ЦСМ, учреждений научно-технического комплекса, работающих в сферах нанотехнологий, лазерных и навигационных систем, аэрокосмических и оборонных технологий; институтов и предприятий, подведомственных Ростехрегулированию.

Российские и иностранные компании смогут принять участие в конкурсной программе «За единство измерений», которая уже 2-ой год проводится на базе экспертной комиссии ФГУ «Ростест-Москва». По итогам конкурса средствам измерений (СИ), отвечающим современным требованиям и подтвердившим свои высокие метрологические характеристики, будут присваиваться сертификат «Знак качества СИ» и Золотая медаль «За единство измерений».
В рамках выставки традиционно пройдут семинары по наиболее актуальным вопросам и темам федеральных программ, подготовленные профильными научно-исследовательскими институтами.


Дата открытия:  03.06.2008
Дата закрытия:  05.06.2008
Место проведения:  на территории ВВЦ
Организаторы:  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии

Возврат к списку

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
Кристиан Доплер
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Джон Амброз Флеминг
Выставки
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.