English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(558)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(648)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(264)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(544)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(120)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Autotestcon 2010

Autotestcon 2010

03.08.2010

IEEE AUTOTESTCON является крупнейшей в США конференцией, посвященной системам автоматического тестирования для американских военных систем и проводится ежегодно с 1965 года. Конференции, чья основная тема – технологии систем поддержки, проводится в разных городах США каждую осень. На конференции ежегодно представлены более 120 тематических докладов и более чем 250 экспонентов.

Участники конференции смогут:

  • принять участие в дискуссии о новых технологиях определения готовности системы
  • обсудить с коллегами и специалистами отрасли меняющиеся потребности клиентских приложений
  • узнать об инновационных технических и управленческих подходах
  • осмотреть более чем 250 стендов представленных компаний
  • прослушать доклады ведущих специалистов в области автоматизированного тестирования


Более подробную информацию о конференции можно узнать на сайте: www.autotestcon.com


Дата открытия:  13.09.2010
Дата закрытия:  16.09.2010
Место проведения:  Орландо, Флорида, США
Организаторы:  IEEE

Возврат к списку

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Выставки
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.