|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Autotestcon 201003.08.2010 IEEE AUTOTESTCON является крупнейшей в США конференцией, посвященной системам автоматического тестирования для американских военных систем и проводится ежегодно с 1965 года. Конференции, чья основная тема – технологии систем поддержки, проводится в разных городах США каждую осень. На конференции ежегодно представлены более 120 тематических докладов и более чем 250 экспонентов.
Участники конференции смогут:
Более подробную информацию о конференции можно узнать на сайте: www.autotestcon.com Дата открытия: 13.09.2010 Дата закрытия: 16.09.2010 Место проведения: Орландо, Флорида, США Организаторы: IEEE |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
Выставки
|