English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(564)
Новости Anritsu(119)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(653)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(94)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(221)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(125)
Новости Росстандарта(149)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Autotestcon 2011

Autotestcon 2011

01.09.2011

IEEE AUTOTESTCON является крупнейшей в США конференцией, посвященной системам автоматического тестирования для американских военных систем и проводится ежегодно с 1965 года. Конференции, чья основная тема – технологии систем поддержки, проводится в разных городах США каждую осень. На конференции ежегодно представлены более 120 тематических докладов и более чем 250 экспонентов.

Участники конференции смогут:

  • принять участие в дискуссии о новых технологиях определения готовности системы
  • обсудить с коллегами и специалистами отрасли меняющиеся потребности клиентских приложений
  • узнать об инновационных технических и управленческих подходах
  • осмотреть более чем 250 стендов представленных компаний
  • прослушать доклады ведущих специалистов в области автоматизированного тестирования

Более подробную информацию о конференции можно узнать на сайте: www.autotestcon.com


Дата открытия:  12.09.2011
Дата закрытия:  15.09.2011
Место проведения:  Baltimore Convention Center, Мериленд, Балтимор, США
Организаторы:  IEEE  / Aerospace and Electronic Systems Society / Instrumentation and Measurement Society

Возврат к списку

Свежий номер
№ 2 Июнь 2021
КИПиС 2021 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
23.09.1987
Формальная дата основания
Выставки
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.