EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Micromachine/MEMS 2012

Micromachine/MEMS 2012

20.01.2012

11-13 июля 2012 г. в Токио в ВЦ Tokyo International Exhibition Center Tokyo Big Sight пройдет выставка микро-электромеханических систем (МЭМС) и нанотехнологий "MicroMachine/MEMS 2012".

Япония - ведущая страна в мире по разработке МЭМС и нано-технологий - технологий будущего, обладающих высоким потенциалом: они могут применяться не только при производстве полупроводников и электронных компонентов, но и во многих других отраслях современной промышленности, от авиастроения до производства одежды и лекарств. Основные цели выставки: демонстрация уникальных достижений научных коллективов в области микро- и нано-технологий, содействие их продвижению на международный рынок, расширение выпуска новых фундаментальных материалов с заданными потребительскими свойствами.

Основные разделы выставки:

  • Оборудование для производства MEMS
  • Материалы
  • Наноимпринтная технология
  • Программное обеспечение для моделирования
  • Нанообработка, технология создания микроустройств
  • Биотехнологии, медицина
  • Оборудование для оценки и тестирования
  • MEMS и их применение

Дата открытия:  11.06.2012
Дата закрытия:  13.06.2012
Место проведения:  Япония, Токио, Tokyo Big Sight
Организаторы:  Mesago Messe Frankfurt Corporation

Возврат к списку

Поделиться:
Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
17.02.1888
Родился немецкий физик, лауреат Нобелевской премии по физике за 1943 год
Отто Штерн
Выставки
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.