English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(558)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(648)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(264)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(543)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(120)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Micromachine/MEMS 2012

Micromachine/MEMS 2012

20.01.2012

11-13 июля 2012 г. в Токио в ВЦ Tokyo International Exhibition Center Tokyo Big Sight пройдет выставка микро-электромеханических систем (МЭМС) и нанотехнологий "MicroMachine/MEMS 2012".

Япония - ведущая страна в мире по разработке МЭМС и нано-технологий - технологий будущего, обладающих высоким потенциалом: они могут применяться не только при производстве полупроводников и электронных компонентов, но и во многих других отраслях современной промышленности, от авиастроения до производства одежды и лекарств. Основные цели выставки: демонстрация уникальных достижений научных коллективов в области микро- и нано-технологий, содействие их продвижению на международный рынок, расширение выпуска новых фундаментальных материалов с заданными потребительскими свойствами.

Основные разделы выставки:

  • Оборудование для производства MEMS
  • Материалы
  • Наноимпринтная технология
  • Программное обеспечение для моделирования
  • Нанообработка, технология создания микроустройств
  • Биотехнологии, медицина
  • Оборудование для оценки и тестирования
  • MEMS и их применение

Дата открытия:  11.06.2012
Дата закрытия:  13.06.2012
Место проведения:  Япония, Токио, Tokyo Big Sight
Организаторы:  Mesago Messe Frankfurt Corporation

Возврат к списку

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
Выставки
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.