English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(550)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(637)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(90)
Новости Rohde & Schwarz(532)
Новости Tektronix(217)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(116)
Новости Росстандарта(144)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

DesignCon 2014

DesignCon 2014

13.01.2014

DesignCon 2014 – это выставка и конференция по полупроводникам и технической разработке электронных устройств и приборов. Ведущее мероприятие отрасли, организованное инженерами для инженеров.

Ежегодно тысячи технических специалистов в области полупроводников и электронного инженерного проектирования приезжают, чтобы посмотреть на новейшие технологии и узнать о последних достижениях промышленности.

Подробнее о процессе регистрации можно посмотреть на официальном сайте мероприятия.

Ознакомиться с программой DesignCon 2014 можно здесь.

В рамках DesignCon пройдёт церемония награждения победителей конкурса Best in Test, который ежегодно проводится сообществом Test & Measurement World. Награждаться будут инновационные разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии.

Официальный сайт DesignCon 2014


Дата открытия:  28.01.2014
Дата закрытия:  31.01.2014
Место проведения:  Санта-Клара, Калифорния, США; Santa Clara Convention Center
Организаторы:  UBM Canon

Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2020
КИПиС 2020 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
09.03.1900
Родился американский математик, создатель первых электромеханических вычислительных машин
Выставки