EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Testing & Control 2018

Testing & Control 2018

31.05.2018

Международная выставка Testing & Control — самая крупная в России выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования. В 2018 г. она пройдет в 15-й раз.

Посетители выставки — представители промышленных, строительных, экологических, научно-исследовательских лабораторий, сертификационных центров, конструкторских бюро, отделов технического контроля, стандартизации и метрологии из различных отраслей экономики.

Разделы выставки:

  • Испытательное оборудование
  • Оборудование для производственного контроля
  • Оборудование для неразрушающего контроля и технической диагностики
  • Машинное зрение
  • Измерительное и метрологическое оборудование
  • Оборудование для лабораторного контроля

Выставку Testing & Control будет сопровождать насыщенная деловая программа: тематические конференции, семинары и презентации.

Одновременно с выставкой «Testing & Control» пройдут выставки: Силовая Электроника, NDT Russia, ExpoCoating Moscow, PCVExpo, Mashex Moscow, HEAT&POWER, FastTec.

www.testing-control.ru


Дата открытия:  23.10.2018
Дата закрытия:  25.10.2018
Место проведения:  г. Москва, МВЦ «Крокус Экспо»
Организаторы:  ITE Москва

Возврат к списку

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
Роберт Нортон Нойс
12.12.1843
День рождения
Марсель Депре
Выставки
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.