English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(558)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(649)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(264)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(544)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(120)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Семинар "Анализ отказов комплектующих изделий при производстве радиоэлектронной аппаратуры"

Семинар "Анализ отказов комплектующих изделий при производстве радиоэлектронной аппаратуры"

07.09.2014

11 сентября 2014 в Санкт-Петербурге пройдёт семинар "Анализ отказов комплектующих изделий при производстве радиоэлектронной аппаратуры".

Место проведения семинара: г. Санкт-Петербург, КЦ "ПетроКонгресс", ул. Лодейнопольская, 5 (ст. метро "Чкаловская"). Схема проезда.

План семинара:

10.00-11.30. Секция 1. Проблемы анализа отказов, подходы к решению.

  • Проблемы анализа качества и причин отказов КИ

a. Требования к анализу отказов КИ, основные проблемы анализа КИ
b. Выработка оптимальных методов и алгоритмов анализа

  • Аналитическое подразделение службы качества

a. Место в структуре организации, подчиненность. Состав, требования к сотрудникам
b. Техническая оснащенность
c. Положение о подразделении. Стандарт организации по анализу отказов ПКИ
d. Взаимодействие с другими подразделениями организации

  • Методы анализа, рекомендации по их применению в работе служб снабжения и качества

a. Визуально-оптический метод. Тестовые методы, метод «прозвонки». Рентгеноскопический метод. Статистические методы. Прочие методы

11.30-12.00. Кофе-брейк

12.00-13.30. Секция 2. Практический опыт анализа качества и причин отказов КИ.

  • Особенности анализа отдельных типов и групп КИ

a. Отечественные и импортные комплектующие. Резисторы. Конденсаторы. Индуктивные элементы. Магнитные сердечники. Диоды. Транзисторы. Микросхемы. Коммутирующие устройства. Прочие комплектующие изделия и материалы.

  • Проблема контрафактных комплектующих

a. Причины появления контрафактных комплектующих в закупках
b. Признаки контрафактных КИ. Анализ примеров выявленного контрафакта.
c. Профилактические действия против проникновения поддельных КИ в производство

13.30-14.30. Обед

14.30-16.30. Секция 3. Базы данных аналитической службы качества, информационные системы.

  • Структура базы данных комплектующих изделий. База данных отказов и документов
  • Демонстрация демо-версии базы данных и ПО для мониторинга случаев поставки контрафактных компонентов (Какшинский А.Л.)

16.30-17.00. Кофе-брейк

17.00-18.00. Секция 4. Обработка и использование результатов анализа

  • Обработка результатов, полученных из базы данных отказов комплектующих изделий

a. Классификация отказов комплектующих
b. Результирующие документы. Выработка корректирующих действий. Проверка исполнения

  • Оценка и отбор поставщиков КИ

a. Основные требования к поставщикам КИ. Стандарт организации по закупкам
b. Реестры поставщиков, практическая классификация поставщиков

Для участия необходимо заполнить бланк заявки и направить его по адресу seminar@sovel.org.

Задать вопросы можно по телефону (495)280-04-19.

Центр Современной Электроники



Возврат к списку

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.