English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(558)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(649)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(264)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(544)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(120)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

V Международная Конференция "Стандартизация, сертификация, обеспечение эффективности, качества и безопасности информационных технологий"

V Международная Конференция "Стандартизация, сертификация, обеспечение эффективности, качества и безопасности информационных технологий"

13.09.2014

С 21 по 22 октября 2014 в Москве пройдёт V Международная Конференция "Стандартизация, сертификация, обеспечение эффективности, качества и безопасности информационных технологий". Мероприятие будет проходить в МИРЭА по адресу пр. Вернадского, д. 78.

Основная тема конференции:

"Обсуждение стратегии развития, гармонизации и внедрения на территории РФ международных политик и стандартов в области ИКТ"

Традиционно, к началу конференции предполагается выпуск сборника трудов (входит в раздаточные материалы).

Статьи принимаются до 25 сентября 2014 г.

Требования к оформлению статей можно посмотреть здесь.

Подробную информацию о Конференции можно посмотреть по данной ссылке.

Источник: Комитет по техническому регулированию, стандартизации и оценке соответствия (РСПП)


Возврат к списку

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.