English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(549)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(636)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(90)
Новости Rohde & Schwarz(530)
Новости Tektronix(217)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(116)
Новости Росстандарта(142)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Трансфер новейших измерительных технологий в аэрокосмическую отрасль

Трансфер новейших измерительных технологий в аэрокосмическую отрасль

01.10.2016

Высокоточные измерительные технологии ФГУП «ВНИИМС» применены в ходе разработки и освоения ультрапрецизионных стабилитронов класса точности 0,0001%, использование которых позволяет существенно улучшить параметры управления космическими аппаратами нового поколения.

Успешный трансфер измерительных технологий института в сферу производства стал результатом сотрудничества с Научно-производственным центром автоматики и приборостроения им. Н.А.Пилюгина, разработчиком основных устройств и программного обеспечения интегрированной инерциально-астро-спутниковой системы навигации и ориентации – универсального «программно-аппаратного ядра» перспективных систем управления ракет-носителей и разгонных блоков.

Измерение динамических параметров ультрапрецизионных стабилитронов класса точности 0,0001%, продукции крупнейшего в стране предприятия по производству электронных компонентов – интегральных микросхем и дискретных полупроводниковых приборов, АО «НЗПП с ОКБ», г.Новосибирск, проводилось с использованием собственного метрологического оборудования ВНИИМС наивысшей точности – эталона напряжения на основе эффекта Джосефсона.



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2020
КИПиС 2020 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений