English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(558)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(649)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(264)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(544)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(120)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Технический комитет КООМЕТ «Длина и угол» обсудил вопросы применения современных технологий линейно-угловых измерений

Технический комитет КООМЕТ «Длина и угол» обсудил вопросы применения современных технологий линейно-угловых измерений

09.10.2016

Научные сотрудники национальных метрологических институтов стран-членов Международного метрологического комитета, обменялись информацией о состоянии и актуальных проблемах метрологической деятельности в области линейно-угловых измерений. Особое внимание было уделено вопросам применения современных технологий измерения длин и углов в научной и промышленной сферах.

Заседание Технического совета состоялось в период 14-15 сентября 2016 года, в г.Вильнюс, Литва. В его работе приняли участие 19 представителей из 10 стран – России, ближнего зарубежья и Европы.

По итогам заседания подтверждена актуальность проведения следующих тем сличения:

  • Линейных стеклянных шкал до 100мм;
  • Измерение двумерного эталона для координатно-измерительных машин;
  • концевых мер длины до 100 мм;
  • концевых мер длины от 100 мм до 1 000 мм;
  • национальных эталонов в области измерений параметров шероховатости поверхности;
  • пилотных сличений национальных эталонов в области измерений поверхностной плотности при значениях 0,10 г/м2 и 0,45 г/м2 и толщины покрытия при значениях 10 нм и 50 нм;
  • дополнительных сличений национальных эталонов в области измерений поверхностной плотности покрытий в диапазоне (0,007-0,21) кг/м2 и толщины покрытий в диапазоне (1-30) мкм.

Также принято решение о продолжении работ в области проведения международных сличений:

  • Национальных эталонов единицы плоского угла;
  • Мер внутренних и наружных диаметров;
  • Прецизионных дальномерных установок;
  • Точных навигационных систем GPS/ГЛОНАСС;
  • Эталонов плоскостности диаметров до 300 мм;
  • Исходных средств измерений параметров эвольвентных зубчатых колес;
  • Эталонов единицы длины в области измерений отклонений от сферичности;
  • Эталонов нанометрового диапазона.

Источник: www.vniims.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.