Новая книга «Измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике»

20.07.2011

Представляем нашим читателям первую в России книгу по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий.

Издана новая книга "Измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике" под авторством Афонского А.А. и Дьяконова В.П. В книге впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих фирм - разработчиков и производителей контрольно-измерительного оборудования: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, Rohde & Schwarz и др. Книга является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. 

Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др.

Новая книга "Измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике" будет интересна и полезна инженерам, научным работникам, аспирантам, преподавателям и студентам вузов и университетов технического и классического типов.