English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(558)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(649)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(264)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(544)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(120)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Читайте в новом номере журнала "Контрольно-измерительные приборы и системы"

Читайте в новом номере журнала "Контрольно-измерительные приборы и системы"

26.03.2012

Тема апрельского номера: «Измерения в технике связи»

В этом номере журнала вы можете прочесть два интереснейших интервью с представителями крупнейших фирм-производителей контрольно-измерительного оборудования:
1. Интервью с Сун Чай Гуи (Soon Chai Gooi),  руководителем подразделения портативных приборов общего назначения компании Agilent Technologies Inc, посвященое уникальным ручным приборам Agilent.
2. Интервью Эмануэлы Сперанзы (Emanuela Speranza), вице-президента по продажам и маркетингу компании Tektronix, взятое на партнёрской конференции EMEA Partner Conference Meeting, главным редактором журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» Александром Афонским. В интервью даются прогнозы на будущее комбинированных приборов, и рассказывается о планах в отношении работы и дальнейшего развития компании на российском рынке, а также изменениях в маркетинговой политике компании.

Много познавательного и интересного можно найти и в статьях, представленных в журнале:

- Обзор выставки лабораторного оборудования Pittcon, г.Орландо, США. Авторы: Татьяна и Александр Афонские (Tatiana Afonskaya and Alexandr Afonskiy)
- «Можно ли применять «руководство по выражению неопределенности измерения» в задачах обеспечения единства измерений?» Автор: Левин С.Ф. (Levin S.), д.т.н., профессор, зав. кафедрой метрологии МИЭИ
- «Захват большего количества деталей сигнала с использованием сегментированной памяти осциллографа». Автор: Мери-Джейн Хэйес (Maryjane Hayes).
- «Лабораторные программируемые источники питания АКТАКОМ с дистанционным управлением». Автор: Афонский А.А (A. Afonskiy)

Кроме того, продолжена публикация серии статей Л.Н.Брянского об истории метрологии. В этом номере вы можете ознакомиться со статьей «Российская метрология и Российские метрологи».

Не забудьте оформить подписку на 2012 год!



Возврат к списку

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.