![]() |
![]() |
|
![]() |
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Производственные испытания (Manufacturing test)![]() 15.01.2014 Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Производственные испытания (Manufacturing test).
M9703A Высокоскоростной дигитайзер и широкополосный цифровой приемник в формате AXIe с разрешением 12 бит от компании Agilent Technologies
Модуль M9703A в формате AXIe представляет собой высокоскоростной восьмиканальный дигитайзер и широкополосный цифровой приемник, обеспечивающий разрешение 12 бит и захват сигналов в диапазоне частот от 0 до 2 ГГц с частотой дискретизации 1,6 Гвыб./с. Режим чередования каналов позволяет захватывать данные с частотой дискретизации до 3,2 Гвыб./с с исключительно высокой точностью измерений. Дигитайзер/приемник M9703A обеспечивает обработку данных в режиме реального времени с помощью четырех ПЛИС Virtex 6 и имеет очень большой объем встроенной памяти — до 16 Гбайт.
Встроенные ПЛИС дигитайзера M9703A имеют опцию цифрового преобразователя с понижением частоты (опция DDC), позволяющего настраиваться на анализируемый сигнал и масштабировать его в режиме реального времени. Опция DDC обеспечивает расширение динамического диапазона, снижение уровня собственных шумов, а также увеличение продолжительности захвата данных и повышение скорости измерений. Использование этой опции совместно с программным обеспечением векторного анализа сигналов Agilent 89600 VSA позволяет выполнять углубленный анализ результатов измерений.
Функция синхронизации в многомодульном режиме обработки данных позволяет создать систему на базе пятислотового шасси в формате AXIe Agilent M9505A высотой всего 4U, содержащую до 40 когерентных по фазе каналов и способную осуществлять захват сигналов с частотой дискретизации 1,6 Гвыб./с.
Приборы в формате PXIe, Agilent Technologies
Платформа ScanWorks Intel SiliconView, компания ASSET InterTech
Платформа compactUTS (cUTS) от Bloomy Controls
Лёгкое, компактное и простое в использовании устройство compactUTS просто программируется с использованием NI LabVIEW и программного пакета для NI TestStand.
TAP-трансивер SFX-TAP16/G-RM, GOEPEL Electronic
Трансивер SFX-TAP16/G-RM обеспечивает выполнение динамического тестирования, основанного на эмуляции процессора в производственных линиях. Трансивер позволяет обнаружить скрытые дефекты, в том числе в процедурах HASS/HALT.
Система производственного тестирования J750Ex-HD, компания Teradyne
Система J750Ex-HD используется для тестирования приложений SoC, включая тестирование микроконтроллеров, датчиков изображения и мобильных устройств связи. По материалу EDN Network, www.edn.com |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
09.05.1903
День рождения разработчика первых диодов, транзисторов и солнечных батарей
![]() |