English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(550)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(637)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(90)
Новости Rohde & Schwarz(531)
Новости Tektronix(217)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(116)
Новости Росстандарта(143)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Международный семинар «Математическая, статистическая и компьютерная поддержка качества измерений»

Международный семинар «Математическая, статистическая и компьютерная поддержка качества измерений»

13.05.2018

Проведение международных научных семинаров, посвященных проблеме обработки данных и оценивания качества измерений во ВНИИМ им. Д.И. Менделеева, стало доброй традицией. Организаторы семинара надеются на плодотворный обмен мнениями специалистов как в области теоретической метрологии, так и в конкретных областях измерений, а также с представителями вузовских наук при обсуждении докладов и проведении круглых столов.

Семинар пройдет с 29 по 31 мая 2018 по адресу: г. Санкт-Петербург, Московский проспект, д.19, ВНИИМ им. Д.И. Менделеева.

Участие в семинаре платное, по предварительной регистрации. Условия участия и регистрационную форму можно найти на сайте ВНИИМ им. Д.И. Менделеева по данной ссылке.

www.vniim.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2020
КИПиС 2020 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений