EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Тестирование полупроводников (Semiconductor Test)

Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Тестирование полупроводников (Semiconductor Test)

29.01.2014

Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.

Вашему вниманию представляются финалисты в категории Тестирование полупроводников (Semiconductor Test).

Зондовая станция СМ300 от компании Cascade Microtech

Высокопроизводительная масштабируемая зондовая станция СМ300 представляет сбой надёжную измерительную систему для тестирования полупроводниковых изделий. Станция устанавливает новый стандарт в тестировании 300 мм пластин при температуре от -60°С до +200°С, на данной системе доступны измерения изделий с технологическим процессом 30 нм. Система управляется и находится под контролем специальной программы Velox. Программа осуществляет навигацию и контролирует процесс загрузки пластин и установки температурного режима.

Cascade Microtech

Тестер Nighthawk, LXT-Credence

Тестер полупроводниковых элементов Nighthawk обладает динамическим диапазоном 120дБ и оптимальной пропускной способностью. Тестер способен получать и декодировать широкий спектр схем основной полосы частот.

LXT-Credence

Архитектура DFTMAX Ultra Compression, компания Synopsys

DFTMAX позволяют разработчику проверять свой проект на тестопригодность на разных стадиях, включая проверку RTL-кода, что помогает исправить ряд нарушений. DFTMAX Compression автоматически создает описание цепочек сканирования и файл протокола, минимизируя усилия разработчиков, направленные на генерацию тестовых векторов.

Synopsys

Система DesignWare STAR, Synopsys

DesignWare STAR – это устройство автоматизированного иерархического тестирования для эффективной проверки SoC систем и структур. Система DesignWare STAR сокращает время тестирования посредством автоматического создания иерархической сети IEEE 1500 для доступа и контроля всех основных услуг IP на уровне SoC. Это обеспечивает простую интеграцию тестовых ресурсов SoC

Synopsys

По материалу EDN Network, www.edn.com



Возврат к списку

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.