EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

ВНИИОФИ и МФТИ подготовят уникальных специалистов в нанометрологии

ВНИИОФИ и МФТИ подготовят уникальных специалистов в нанометрологии

04.08.2018

ВНИИОФИ подписал соглашение с Московским физико-техническим институтом (МФТИ) о совместном осуществлении образовательной деятельности в рамках кафедры нанометрологии и наноматериалов. Новая кафедра будет готовить уникальных специалистов. Они смогут разрабатывать средства и методики измерений для новых технологических направлений, в которых метрологическое обеспечение пока отсутствует.

«Темпы научно-технологического развития ставят множество вызовов перед метрологией. Приходится с опережением создавать измерительные средства для инновационной продукции, которая еще не вышла на рынок, – отметил директор ВНИИОФИ Андрей Батурин.

Одной из основных задач института является создание и совершенствование эталонной базы высшей точности в области оптики и фотоники. Скоро начнут внедряться многие разработки на основе терагерцовых и квантовых технологий, а также радиофотоники. Это потребует уже подготовленной национальной эталонной базы.

«Для ответа на эти вызовы нам необходимы молодые кадры с сильной подготовкой в области фундаментальной физики и умением решать сложные мультидисциплинарные задачи. Этим всегда отличались студенты Физтеха», – добавил Андрей Батурин.

К исследованиям на стыке метрологии и фундаментальной физики будут привлекаться студенты 4-6 курсов и аспиранты. Параллельно с освоением дисциплин они будут выполнять научно-исследовательскую работу в лабораториях института по различным направлениям: метрология терагерцового излучения, малофотонные источники и приемники для квантовых криптографических и коммуникационных систем, контроль параметров сверхмощного импульсного и непрерывного лазерного излучения и измерение динамических характеристик сверхбыстрых фотоприемников. Первая группа студентов, заинтересованных в поступлении на новую программу, уже посетила ВНИИОФИ с экскурсией.

«ВНИИОФИ хорошо оснащен современным научным оборудованием. Это видно на примере действующих в институте Центра коллективного пользования и Центра метрологического обеспечения наноиндустрии. Институт сейчас наращивает свой научный потенциал, активно участвуя в исследованиях. Работа в метрологическом институте привлекает молодых ученых, желающих решать актуальные задачи с перспективой быстрого внедрения», – отметил заведующий кафедрой нанометрологии и наноматериалов, профессор Павел Тодуа.

Источник: www.gost.ru
www.vniiofi.ru



Возврат к списку

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.