EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

ГПС для СИ параметров отклонения от плоскостности оптических поверхностей размером до 200 мм

ГПС для СИ параметров отклонения от плоскостности оптических поверхностей размером до 200 мм

01.09.2018

С 1 сентября 2018 года впервые вводится ГОСТ 8.661-2018 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений параметров отклонения от плоскостности оптических поверхностей размером до 200 мм.

Стандарт распространяется на Государственный первичный специальный эталон (ГПСЭ) единицы длины отклонений от плоскостности оптических поверхностей размером до 200 мм и государственную поверочную схему для средств измерений параметров отклонений от плоскостности EFE (максимальное отклонение от плоскостности) оптических поверхностей размером до 200 мм.

Источник: www.rostest.ru



Возврат к списку

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.