EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

III Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология, стандартизация и управление качеством»

III Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология, стандартизация и управление качеством»

29.09.2018

С 14 по 20 октября 2018 г. в Омске пройдет III Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология, стандартизация и управление качеством».

Ключевая миссия Конференции – укрепление связей между университетскими научными исследованиями и предприятиями реального сектора экономики.

В конференции принимают участие студенты, аспиранты и ученые Омского государственного технического университета, а также представители других российских и зарубежных образовательных и научных организаций, промышленные предприятия.

В ходе конференции планируется рассмотреть следующие темы:

  • вопросы геометрических моделей реальных деталей в системе координат;
  • состояние и перспективы развития приборного парка в области бесконтактного теплового контроля;
  • научные принципы стандартизации;
  • тенденции развития систем менеджмента качества на основе международных стандартов ИСО серии 9000;
  • интеграция систем менеджмента качества с межотраслевыми и отраслевыми системами менеджмента;
  • другие актуальные вопросы в области стандартизации, метрологии и управления качеством. <

Конференция будет поделена на несколько секций:

  • Секция 1: Метрологическое обеспечение качества
  • Секция 2: Стандартизация и управление качеством продукции
  • Секция 3: Информационные технологии в современном производстве

Подробнее об условиях участия.

Источник: СО РАН
www.sbras.ru



Возврат к списку

Поделиться:
Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
Тамм Игорь Евгеньевич
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Капица Петр Леонидович
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.