EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Научно-практический семинар «Калибровка средств измерений в соответствии с требованиями стандарта ISO/IEC 17025-2017»

Научно-практический семинар «Калибровка средств измерений в соответствии с требованиями стандарта ISO/IEC 17025-2017»

06.03.2019

Семинар пройдет с 26 по 28 марта 2019 г. в Москве.

Место проведения: Конференц-центр гостиницы «Вега Измайлово»,
105613, Москва, Измайловское шоссе 71, 3В
ст. метро «Партизанская»
МЦК «Измайлово»

В программе семинара:

  • Определение понятия калибровки. Цели и задачи калибровки. Сферы распространения.
  • Нормативные документы, регламентирующие проведение калибровки. №102-ФЗ, ISO/IEC 17025-2017 «Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий», MRA.
  • Сравнительный анализ операций «поверка» и «калибровка».
  • Основные этапы калибровки.
  • Средства измерений, применяемые при калибровках и их метрологические характеристики. Формы представления калибровочных характеристик.
  • Методы калибровки и их выбор.
  • Базовый алгоритм оценивания неопределенности измерений при калибровках.
  • Основные характеристики СИ, влияющие на точность калибровки и вносимые ими неопределенности: инструментальная неопределенность эталонов, дополнительная погрешность эталонов за счет их нестабильности, изменения условий калибровки, влияния калибруемого СИ на эталон; наблюдаемый разброс показаний измерительного прибора, дискретность отсчета.
  • Обработка результатов и оценивание неопределенности измерений при калибровке различных СИ: мер, измерительных приборов, измерительных преобразователей.
  • Определение параметров калибровочной зависимости.
  • Оформление сертификатов калибровки.
  • Структура методики калибровки.
  • Этапы разработки методики калибровки.
  • Валидация методик калибровки. Оформление протокола валидации.
  • Использование результатов калибровки для оценки пригодности СИ.
  • Нахождение наименьшей неопределенности (наилучших калибровочных возможностей).
  • Примеры оценивания неопределенности при калибровке СИ различных величин.

Ознакомиться с условиями участия можно по данной ссылке.

www.cnts-dialog.ru



Возврат к списку

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
Тамм Игорь Евгеньевич
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Капица Петр Леонидович
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.