![]() |
![]() |
|
![]() |
![]() |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на рассылку
|
О российско-китайском научном сотрудничестве![]() 22.07.2019 8 июля в Москве состоялась встреча специалистов ВНИИ метрологической службы с учеными Хефейского технологического университета Китайской народной республики. Диалог с представителями китайской делегации поддержали сотрудники отдела метрологического обеспечения измерений геометрических параметров. Ученые Хефейского технологического университета продемонстрировали результаты своих исследований в области моделирования и поверки микро- и нано- датчиков для координатно-измерительных машин и обсудили с российскими коллегами возможность их применения в целях совершенствования метрологического обеспечения измерений геометрических параметров поверхностей сложной формы. В свою очередь российские специалисты познакомили китайских коллег с перспективными разработками в области измерений геометрических параметров шероховатости, формы и расположения поверхностей на базе лабораторий института. По итогам встречи стороны выразили взаимную заинтересованность в научном сотрудничестве и обмене результатами исследований. www.vniims.ru |
Свежий номер
События из истории измерений
|
|
|
© "Контрольно-измерительные приборы и системы" ("КИПиС"), 1996-2021. Все права защищены. Политика конфиденциальности | |