|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Семинар «ГОСТ 30804.4.30-2013. Методы измерений показателей качества электрической энергии. Особенности применения»20.02.2020 ФГУП «ВНИИМС» приглашает принять участие в однодневном практическом семинаре, который пройдет 25 февраля на площадке института. Семинар будет посвящен методам измерений показателей качества электрической энергии. В качестве ведущего выступит доктор физ.-мат. наук Семенчинский С.Г. В программе семинара:
Всем участникам по окончанию обучения будут выданы сертификаты. Узнать об условиях участия, а также заполнить форму заявки, можно на сайте ФГУП «ВНИИМС» по данной ссылке. По материалам www.vniims.ru |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
|