English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(550)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(637)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(90)
Новости Rohde & Schwarz(531)
Новости Tektronix(217)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(116)
Новости Росстандарта(143)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Представитель Росаккредитации принял участие в заседании технического комитета «Оценка соответствия»

Представитель Росаккредитации принял участие в заседании технического комитета «Оценка соответствия»

06.07.2014

30 мая во Всероссийском научно-исследовательском институте сертификации состоялось установочное заседание технического комитета по стандартизации «Оценка соответствия». В мероприятии принял участие заместитель руководителя Федеральной службы по аккредитации С.В. Мигин.

Участники состоявшегося заседания обсудили вопросы, касающиеся деятельности комитета, в том числе – программу работ на ближайшую перспективу, а также предложения по реорганизации структуры комитета в целях оптимизации его деятельности. В соответствии с утвержденной структурой, в составе комитета был образован подкомитет, посвященный вопросам аккредитации. Секретариатом данного подкомитета определена Росаккредитация.

В рамках содержательной части заседания был рассмотрен план разработки национальных стандартов в области оценки соответствия на 2015 год, а также предложения об изменении стандарта, устанавливающего требования к органам по сертификации продукции. Кроме того, участники заседания обсудили вопросы, касающиеся работы Комитета ИСО по оценке соответствия (КАСКО).

Федеральная служба по аккредитации РОСАККРЕДИТАЦИЯ



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2020
КИПиС 2020 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений