EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Курс повышения квалификации «Система управления рисками и возможностями в деятельности калибровочной лаборатории»

Курс повышения квалификации «Система управления рисками и возможностями в деятельности калибровочной лаборатории»

23.01.2021

Курс повышения квалификации «Система управления рисками и возможностями в деятельности калибровочной лаборатории» пройдет с 9 по 11 февраля 2021 года в режиме онлайн.

Программа онлайн-курса будет включать в себя следующие темы:

  1. Основные отличия ГОСТ ISO IEC 17025-2019 от ГОСТ ИСО МЭК 17025-2009 в части:
    – области применения;
    – терминов и определений;
    – требований к беспристрастности и конфиденциальности;
    – требований к структуре;
    – требований к ресурсам:
    * к персоналу;
    * к помещениям и условиям окружающей среды;
    * к оборудованию;
    * к метрологической прослеживемости;
    * к продукции и услугам, поставляемой внешними поставщиками;
    – требований к процессу:
    * рассмотрение запросов, тендеров и договоров;
    * выбор, верификация и валидация методов;
    * отбор образцов;
    * обращение с объектами испытаний или калибровки;
    * технические записи;
    * оценивание неопределенности измерений;
    * обеспечение достоверности результатов;
  2. Требования критериев аккредитации к системе управления рисками и возможностями, связанными с деятельностью калибровочной лаборатории.
  3. Примеры анализа рисков, причин, последствий, оценки вероятности причины риска, степени влияния, управляемости, формирование мероприятий по предотвращению риска.
  4. Практические занятия
    и другие вопросы.

С условиями участия можно ознакомиться по данной ссылке.

www.cnts-dialog.ru



Возврат к списку

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
Роберт Нортон Нойс
12.12.1843
День рождения
Марсель Депре
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.