English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(552)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(645)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(264)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(540)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(118)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Разработка новых стандартных образцов поверхностной плотности

Разработка новых стандартных образцов поверхностной плотности

27.04.2021

В 2020 г. Уральским НИИ метрологии – филиалом ВНИИМ им. Д.И. Менделеева завершено испытания 11 новых типов стандартных образцов (СО) поверхностной плотности и толщины одно- и двухслойных покрытий. По итогам испытательных работ все образцы утверждены Росстандартом.

По сообщению лаборатории метрологии термометрии и поверхностной плотности УНИИМ, новые стандартные образцы предназначены для метрологического обеспечения работ с применением современных рентгенофлуоресцентных измерителей. Такие измерения востребованы, в частности, при производстве различной электроники, где необходимо контролировать показатели поверхностной плотности и толщины покрытий.

Новые стандартные образцы дают возможность обеспечивать точность работы измерительных устройств, аттестовать методики измерений поверхностной плотности и толщины гальванических покрытий, проводить межлабораторные сличительные испытания в этой области измерений.

Стандартные образцы представляют собой основания в виде диска из меди или стали, на которые нанесены золотое, кадмиевое, никелевое, оловянное, серебряное и цинковое покрытие с подслоем из никеля, серебра или меди. С основными метрологическими и техническими характеристиками СО можно ознакомиться в ФГИС «Аршин».

По материалам: Росстандарт
www.rst.gov.ru
Уральский НИИ метрологии – филиал ВНИИМ им. Д.И. Менделеева
www.uniim.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
09.05.1903
День рождения разработчика первых диодов, транзисторов и солнечных батарей
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.