English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(549)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(636)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(90)
Новости Rohde & Schwarz(530)
Новости Tektronix(217)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(116)
Новости Росстандарта(143)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Вебинар «Новые требования к аттестации эталонов. Первые практические результаты»

Вебинар «Новые требования к аттестации эталонов. Первые практические результаты»

31.01.2021

9 февраля 2021 г., с 10.00 до 13.00 по московскому времени, пройдет вебинар по теме «Новые требования к аттестации эталонов. Первые практические результаты».

В процессе вебинара планируется обсудить новые требования к аттестации, первые практические результаты оформления материалов аттестации и типичные ошибки.

Ведущие вебинара: советник директора ВНИИМС Андрощук Юрий Николаевич и начальник лаборатории менеджмента качества в сфере метрологических услуг Козьмина Екатерина Владимировна.

Условия участия изложены по данной ссылке.

www.vniims.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2020
КИПиС 2020 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника