English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(550)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(637)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(90)
Новости Rohde & Schwarz(531)
Новости Tektronix(217)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(116)
Новости Росстандарта(144)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Раздел «Осциллография» Энциклопедии измерений пополнился новым термином

Раздел «Осциллография» Энциклопедии измерений пополнился новым термином

01.09.2016

Спешим сообщить, что Энциклопедия измерений продолжает развиваться и пополняться новыми определениями.

В этом году компанией Tektronix была анонсирована абсолютно новая платформа для измерительных систем – технология IsoVu. Основная идея этой технологии заключается в использовании электро-оптических датчиков для преобразования входного сигнала в оптический модулированный, что позволяет гальванически развязать осциллограф от тестируемого устройства.

О возможностях новой технологии и её основных характеристика Вы узнаете из нашей Энциклопедии измерений.



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2020
КИПиС 2020 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
08.03.1914
Родился советский физик и физико-химик