EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новые термины в разделе «Метрология» Энциклопедии измерений

10.12.2013

В раздел «Метрология» Энциклопедии измерений добавились новые термины. Предлагаем ознакомиться с новыми определениями «Чувствительность измерительной системы» и «Разрешающая способность».



Возврат к списку
Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
01.02.1905
Родился американский физик, профессор, лауреат Нобелевской премии по физике
Эмилио Джино Сегре
Эмилио Джино Сегре
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.