 |
 |
|
 |
| EN |
|
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
Информация
|
Обновление Энциклопедии измерений12.12.2013 Список терминов раздела «Метрология» Энциклопедии измерений продолжает расти и пополняться новыми определениями. Теперь в него включены новые понятия – «Предел обнаружения» и «Класс точности». |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
18.07.1968
Основана американская корпорация, производящая широкий спектр электронных устройств и компьютерных компонентов, включая микропроцессоры, наборы системной логики (чипсеты) и др.
|
