English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(561)
Новости Anritsu(119)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(651)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(548)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(121)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новые термины в Энциклопедии измерений

Новые термины в Энциклопедии измерений

06.03.2014

Раздел «Метрология» Энциклопедии измерений пополнился новыми определениями:

Валидация
Естественный эталон
Стабильность средства измерений
Метрологическая прослеживаемость
Первичный эталон
Вторичный эталон
Модель измерений
Входная величина в модели измерений
Выходная величина в модели измерений
Когерентная система единиц.



Возврат к списку
Свежий номер
№ 2 Июнь 2021
КИПиС 2021 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
01.08.2011
Tektronix объявляет о выпуске осциллографа с полосой пропускания 33 ГГц, обладающего самой высокой в отрасли точностью измерений
01.08.2001
Открытие российского Представительства компании NI
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.