Статьи КИПиС

Автор(ы):  Левин С.Ф.
Номер журнала:  КИПиС 2020 № 6
ГОСТ ISO/IEC 17025–2019 «Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий» обязал органы, осуществляющие испытания, калибровку и отбор образцов для последующих испытаний, объективно оценивать риски статистических предположений, ложноположительных и ложноотрицательных решений о соответствии установленным требованиям. 17 декабря 2019 г. Приказом Росстандарта № 1405-ст с 1 марта 2020 года ГОСТ Р ИСО/МЭК 31010–2011 заменен на ГОСТ Р 58771–2019 «Менеджмент риска. Технологии оценки риска», в котором радикальные оценки о неприменимости подхода Байеса и метода Монте-Карло при расчетах риска удалены, а недостатки переименованы… Какое это оказало влияние? Читайте в данной статье.

Автор(ы):  Афонская Т.Д., Афонский А.А., Боровская М.И.
Номер журнала:  КИПиС 2020 № 6
Одна из самых популярных международных выставок CES 2021, пройдет полностью в цифровой формат с 11 по 14 января 2021 г. Участники этого масштабного мероприятия смогут увидеть самые свежие новинки, познакомиться с новыми компаниями-разработчиками, узнать еще больше нового о мировых брендах.

Автор(ы):  Афонская Т.Д., Афонский А.А., Боровская М.И.
Номер журнала:  КИПиС 2020 № 6
Выставку electronica, которая проводится каждые 2 года в Мюнхене, не миновали изменения, и она была переведена в виртуальный формат, как и многие крупные промышленные выставки. Онлайн-electronica прошла с 9 по 12 ноября 2020 г. В нашем обзоре рассказывается об основных темах, обсуждаемых на выставке, приводится в пример мнение экспертов, касаемо технологий будущего, а также представляются измерительные приборы, демонстирируемые в виртуальных залах electronica.

Номер журнала:  КИПиС 2020 № 6
Keysight Technologies предоставляет полнофункциональные комплексные решения для проектирования, тестирования и проверки систем радиоэлектронной борьбы (РЭБ), начиная с цифрового моделирования во время исследований и разработок, и заканчивая системной интеграцией, полётными испытаниями и тестированием систем, находящихся в полной готовности.

Автор(ы):  Сураб Даз
Номер журнала:  КИПиС 2020 № 6
USB 2.0 продолжает оставаться одной из самых широко распространенных системных шин, используемых в разнообразных приложениях благодаря своей надежности, простоте использования и экономической эффективности. Несмотря на то, что это не самая быстрая версия USB со скоростью передачи данных до 480 Мбит/с, она применяется для решения огромного количества задач...

Номер журнала:  КИПиС 2020 № 6
В статье описывается новый универсальный RLC-измеритель АКТАКОМ АМ-3128, приводится таблица сравнения с другими ручными измерителями иммитанса производства АКТАКОМ разных ценовых сегментов, рассматриваются дополнительные функции и опции прибора АМ-3128. Статья предназначена для инженерного персонала производственных предприятий и широкого круга радиолюбителей.

Автор(ы):  Левин С.Ф.
Номер журнала:  КИПиС 2020 № 5
Опыт решения измерительных задач установления межповерочных интервалов (МПИ) средств измерений показал, что можно выделить несколько основных факторов, влияющих на точность получаемых результатов и уровень доверия к ним. Профессор Левин С.Ф. в своей статье «Математическая теория измерительных задач: приложения. Определение и корректировка межповерочных интервалов средств измерений» рассказывает о каждом из них, акцентируя внимание на демонстрации результатов применения основных методических положений композиционного подхода в задаче определения МПИ СИ.

Автор(ы):  Афонская Т.Д., Афонский А.А., Боровская М.И.
Номер журнала:  КИПиС 2020 № 5
Международная выставка electronica проводится один раз в два года в Мюнхене (Германия). Организатор выставки electronica, Messe Munchen, впервые готовится принять гостей с 10 по 13 ноября 2020 в виртуальных залах electronica virtual. Как это будет – узнайте из статьи «Необычный год – необычные решения.… Или как пройдет выставка electronica».

Автор(ы):  Горелкин М.В. , Лемешко Н.В., Струнин П.А.
Номер журнала:  КИПиС 2020 № 5
В данной статье рассматриваются возможности расширенного анализа сигналов на основе измерений с постобработкой, реализуемой при помощи аппаратных и программных опций, функционирующих на базе современных цифровых осциллографов. Также выполнен анализ предпосылок развития таких опций, введена их классификация, и дана характеристика охвата практических задач функциональными возможностями опций осциллографов серий R&S RTO и R&S RTP как одних из наиболее совершенных на рынке средств измерений.

Автор(ы):  Ли Морган (Lee Morgan)
Номер журнала:  КИПиС 2020 № 5
Лучшей отправной точкой для выяснения исходной причины появления битовых ошибок является анализ джиттера, но в некоторых случаях добраться до первопричины может помочь анализ сигналов схемы питания. Статья Ли Моргана (Компания Tektronix) «Выявление взаимосвязи между джиттером и шумом схемы питания» поможет Вам разобраться в битовых ошибках, рассмотрев эти два явления как во временной, так и в частотной областях.