English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(566)
Новости Anritsu(119)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(654)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(94)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(222)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(125)
Новости Росстандарта(149)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Форум «Промышленная политика, техническое регулирование и контроль качества»

С 21 по 25 марта в Москве прошла «IX Неделя российского бизнеса 2016». Одним из ключевых и наиболее значимых мероприятий её программы стал Форум «Промышленная политика, техническое регулирование и контроль качества», который прошёл 22 марта в самом сердце Москвы, в отеле «Ритц-Карлтон». Основными вопросами для обсуждения стал принятый в 2015 и реализующийся закон «О стандартизации в Российской Федерации», возможности, которые он открывает для промышленности, повышение эффективности работы на площадке ЕЭК и все более остро стоящая тема недобросовестной конкуренции, фальсификата, контроля качества товаров и услуг.

Номер журнала:  КИПиС 2016 № 2

Возврат к списку


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 3 Сентябрь 2021
КИПиС 2021 № 3
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.