EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Семинар по осциллографии от Agilent Technologies

Как известно, семинар — это мероприятие, объединяющее любителей и профессионалов, которые обмениваются информацией, делятся опытом и знаниями. В переводе с латинского, семинар — это «школа». Именно такую «школу» организовала компания Agilent Technologies, признанный производитель контрольно-измерительного оборудования, 24 мая в московском бизнес-центре «Кимберли-Лэнд». Задачей организаторов семинара «Осциллография и цифровой анализ» было продемонстрировать целый ряд новинок контрольно-измерительных приборов и подробно рассказать об их многочисленных функциональных возможностях.

Автор(ы): Боровская М.И.
Номер журнала: КИПиС 2012 № 3

Возврат к списку


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.