English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(549)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(636)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(90)
Новости Rohde & Schwarz(530)
Новости Tektronix(217)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(116)
Новости Росстандарта(142)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

КИПиС 2014 № 3

КИПиС 2014 № 3
Год: 2014
Номер: 3
Месяц: Июнь
Тема номера: Метрология
На обложке: National Instruments предлагает новый подход к СВЧ измерительной технике на базе открытого ПО и модульных приборов (www.ni.com)
Содержание
Новости от АКТАКОМ, Agilent Technologies, Tektronix, Rohde&Schwarz и др. 4
Математическая теория измерительных задач: приложения 8
10-й Юбилейный Московский международный форум «Точные измерения — основа качества и безопасности» 14
Многофункциональные ручные осциллографы — мультиметры с сенсорным экраном АКТАКОМ серии ADS-4000 15
Поиск источников аномалий с использованием возможностей современных осциллографов 26
Тестирование устройств USB 2.0 с помощью цифровых осциллографов R&S®RTO 32
Коэффициент мощности — как правильно измерить? 35
Тестирование трансиверов SFP+ 36
Реклама в номере
Осциллографические технологии нового поколения - Keysight Technologies
Осциллографические технологии нового поколения
Keysight Technologies
(www.agilent.ru)
Прецизионные параметрические анализаторы серии B2900A - Keysight Technologies
Прецизионные параметрические анализаторы серии B2900A
Keysight Technologies
(www.agilent.ru)
Выставка Electrontechexpo 2015 - Primexpo
Выставка Electrontechexpo 2015
Primexpo
(www.primexpo.ru)
Новый подход к системам тестирования на базе открытого ПО и модульных приборов - NI
Новый подход к системам тестирования на базе открытого ПО и модульных приборов
NI
(www.ni.com)
Открыт новый портал! - Rohde & Schwarz
Открыт новый портал!
Rohde & Schwarz
(www.rohde-schwarz.ru)
Цифровые осциллографы RIGOL для точных измерений - ИРИТ
Цифровые осциллографы RIGOL для точных измерений
ИРИТ
(www.irit.ru)
Портативные цифровые RLC-метры - ЭЛИКС
Портативные цифровые RLC-метры
ЭЛИКС
(www.eliks.ru)
Выставка RADEL-2014 - ФАРЭКСПО
Выставка RADEL-2014
ФАРЭКСПО
(www.farexpo.ru)
Токовые клещи АКТАКОМ - превосходный выбор - ЭЛИКС
Токовые клещи АКТАКОМ - превосходный выбор
ЭЛИКС
(www.eliks.ru)
Профессиональные программируемые нагрузки АКТАКОМ - ЭЛИКС
Профессиональные программируемые нагрузки АКТАКОМ
ЭЛИКС
(www.eliks.ru)
Источники питания постоянного и переменного тока АКТАКОМ - ЭЛИКС
Источники питания постоянного и переменного тока АКТАКОМ
ЭЛИКС
(www.eliks.ru)
Ваша лаборатория в антистатическом исполнении от АКТАКОМ - ЭЛИКС
Ваша лаборатория в антистатическом исполнении от АКТАКОМ
ЭЛИКС
(www.eliks.ru)
Источник-измеритель с сенсорным дисплеем KEITHLEY 2450 - Keithley Instruments
Источник-измеритель с сенсорным дисплеем KEITHLEY 2450
Keithley Instruments
(www.keithley.com)
     

Назад в раздел
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2020
КИПиС 2020 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.02.1786
День рождения
Доминик Франсуа Араго
26.02.1911
День рождения ученого, исследовавшего поляризацию вакуума
Мигдал Аркадий Бейнусович
26.02.1935
Изобретатель Роберт Уотсон-Уатт провел первые испытания радара