Последнее десятилетие характеризуется увеличением потребительского спроса на электронику с расширенной функциональностью — от смартфонов до планшетных компьютеров. Это вызывает проблемы при тестировании комплектующих как для компаний-изготовителей подобной электроники, так и для изготовителей самих комплектующих. А поскольку смена моделей электронных устройств теперь происходит значительно быстрее, то для измерения их характеристик и тестирования требуются новые алгоритмы или процедуры. Часто это означает, что измерительные приборы, использовавшиеся для снятия ВАХ в прошлом году, в этом году могут оказаться уже непригодными. Ответом на эти непрерывные изменения стал ряд новых тенденций, направленных на создание измерительных приборов, способных быстро адаптироваться к вновь разрабатываемым процедурам испытаний.