English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(558)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(648)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(264)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(544)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(120)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Использование встроенных процессоров сценариев и встроенного программного обеспечения в контрольно-измерительных приборах — важная тенденция последнего десятилетия

Последнее десятилетие характеризуется увеличением потребительского спроса на электронику с расширенной функциональностью — от смартфонов до планшетных компьютеров. Это вызывает проблемы при тестировании комплектующих как для компаний-изготовителей подобной электроники, так и для изготовителей самих комплектующих. А поскольку смена моделей электронных устройств теперь происходит значительно быстрее, то для измерения их характеристик и тестирования требуются новые алгоритмы или процедуры. Часто это означает, что измерительные приборы, использовавшиеся для снятия ВАХ в прошлом году, в этом году могут оказаться уже непригодными. Ответом на эти непрерывные изменения стал ряд новых тенденций, направленных на создание измерительных приборов, способных быстро адаптироваться к вновь разрабатываемым процедурам испытаний.

Автор(ы):  Ами Тели (Ami Teli)
Номер журнала:  КИПиС 2013 № 3
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.