EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Деннис Уеллер (Dennis Weller)

Agilent Technologies

Статьи этого автора


Тестирование компонентов с помощью осциллографа со встроенным генератором сигналов

Номер журнала: КИПиС 2011 № 2

В данной статье описаны методы тестирования компонентов с помощью осциллографа и генератора сигналов. Показана методика тестирования конденсаторов, индуктивностей, диодов, биполярных транзисторов и кабелей. Кроме того, описанные методы можно использовать для поиска неисправных компонентов или определения номиналов немаркированных компонентов.

 

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
22.08.1834
День рождения
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.