English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(550)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(637)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(90)
Новости Rohde & Schwarz(531)
Новости Tektronix(217)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(116)
Новости Росстандарта(143)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Такуя Хирато (Takuya Hirato)


Книги этого автора



Статьи этого автора


Решение задач многопортового векторного анализа цепей и одновременного тестирования нескольких устройств

Номер журнала: КИПиС 2017 № 5

Для минимизации стоимости тестирования в условиях массового производства компонентов требуется тестировать больше устройств за меньшее время. Инженеры принимают разнообразные меры по сокращению времени тестирования, автоматизируя контрольно-измерительные системы. Увеличение скорости тестирования становится более проблематичным по мере роста числа портов и расширения функциональности выпускаемых устройств…

 

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2020
КИПиС 2020 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений