EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Решение задач многопортового векторного анализа цепей и одновременного тестирования нескольких устройств

Для минимизации стоимости тестирования в условиях массового производства компонентов требуется тестировать больше устройств за меньшее время. Инженеры принимают разнообразные меры по сокращению времени тестирования, автоматизируя контрольно-измерительные системы. Увеличение скорости тестирования становится более проблематичным по мере роста числа портов и расширения функциональности выпускаемых устройств…

Автор(ы): Такуя Хирато (Takuya Hirato)
Номер журнала: КИПиС 2017 № 5

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
Кристиан Доплер
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Джон Амброз Флеминг
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.