|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Решение задач многопортового векторного анализа цепей и одновременного тестирования нескольких устройств
Для минимизации стоимости тестирования в условиях массового производства компонентов требуется тестировать больше устройств за меньшее время. Инженеры принимают разнообразные меры по сокращению времени тестирования, автоматизируя контрольно-измерительные системы. Увеличение скорости тестирования становится более проблематичным по мере роста числа портов и расширения функциональности выпускаемых устройств…
Автор(ы): Такуя Хирато (Takuya Hirato) Номер журнала: КИПиС 2017 № 5 Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
09.12.1883
Родился советский ученый, механик, специалист в области механики и гидродинамики
|