В современном мире электронная техника развивается семимильными шагами. Каждый день появляется что-то новое, и это не только небольшие улучшения уже существующих моделей, но и результаты применения инновационных технологий, позволяющих в разы улучшить характеристики.
Не отстает от электронной техники и приборостроительная отрасль – ведь чтобы разработать и выпустить на рынок новые устройства, их необходимо тщательно протестировать, как на этапе проектирования и разработки, так и на этапе производства. Появляются новая измерительная техника и новые методы измерения, а, следовательно – новые термины и понятия.
Для тех, кто часто сталкивается с непонятными сокращениями, аббревиатурами и терминами и хотел бы глубже понимать их значения, и предназначена эта рубрика.
Впервые данный вид испытаний для заводского технического контроля был разработан в середине пятидесятых годов в США. Он позволяет с высокой степенью надёжности и точности диагностировать различные повреждения и скрытые дефекты (царапины, разрывы, микротрещины). Скрытые дефекты проявляются не сразу, но через некоторое время под воздействием изменений температуры, внутренних магнитных и механических напряжений могут привести к КЗ и выгоранию обмоток.
Принцип испытания основан на воздействии импульсного затухающего колебания, вызывающего в обмотке процессы, схожие с типичными рабочими режимами электрических машин (пуск, переключения, помехи от соседнего работающего оборудования).
Между индуктивностью испытываемой обмотки и конденсатором, установленным в приборе создаётся резонансный контур, частота колебаний которого зависит от индуктивности испытываемой обмотки (которая, в свою очередь, зависит от количества витков, типа и качества железа, взаимного расположением обмоток и типа соединений секций обмотки), а процесс затухания определяется добротностью Q (связанной с наличием коротких замыканий, утечек на землю и т.д.).
Сравнение формы кривой затухающих колебаний напряжения с эталонной позволяет определить различия, обусловленные появлением дефектов (в том числе и скрытых): коротких замыканий между витками, слоями или выводами обмоток, неправильного соединения секций, изменений количества витков, повреждений изоляции и т.д.
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
Этот универсальный конвертер позволяет перевести различные величины (такие, как: длина, масса, температура, объем, площадь, скорость, время, давление и энергия) из одной системы единиц в другую. Он прост в использовании и работает на различных языках: русском, английском, испанском.
Выберите язык
Выберите величину
Введите значение
Получите результат
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.