EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Импульсные испытания обмоток

Об Энциклопедии измерений
Поиск:  

Впервые данный вид испытаний для заводского технического контроля был разработан в середине пятидесятых годов в США. Он позволяет с высокой степенью надёжности и точности диагностировать различные повреждения и скрытые дефекты (царапины, разрывы, микротрещины). Скрытые дефекты проявляются не сразу, но через некоторое время под воздействием изменений температуры, внутренних магнитных и механических напряжений могут привести к КЗ и выгоранию обмоток.

Принцип испытания основан на воздействии импульсного затухающего колебания, вызывающего в обмотке процессы, схожие с типичными рабочими режимами электрических машин (пуск, переключения, помехи от соседнего работающего оборудования).

Между индуктивностью испытываемой обмотки и конденсатором, установленным в приборе создаётся резонансный контур, частота колебаний которого зависит от индуктивности испытываемой обмотки (которая, в свою очередь, зависит от количества витков, типа и качества железа, взаимного расположением обмоток и типа соединений секций обмотки), а процесс затухания определяется добротностью Q (связанной с наличием коротких замыканий, утечек на землю и т.д.).

Сравнение формы кривой затухающих колебаний напряжения с эталонной позволяет определить различия, обусловленные появлением дефектов (в том числе и скрытых): коротких замыканий между витками, слоями или выводами обмоток, неправильного соединения секций, изменений количества витков, повреждений изоляции и т.д.


Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
Роберт Нортон Нойс
12.12.1843
День рождения
Марсель Депре
Конвертер единиц измерения
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.