EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости компаний

RSS

15.06.2010 | 3070
Компания National Instruments представила новый адаптерный модуль FlexRIO для обработки изображений на ПЛИС с видеокамер на базе интерфейса Camera Link Компания National Instruments представила новый адаптерный модуль FlexRIO для платформы PXI, обладающий высокоэффективной архитектурой с распараллеливанием процессов на ПЛИС, благодаря чему на аппаратной части можно реализовать предварительную обработку изображения с высокоточным тактированием, а также необходимые циклы по управлению потоком данных. Новый адаптерный модуль интерфейса Camera Link NI 1483 в комбинации с FlexRIO представляет собой гибкое и высоконадежное встраиваемое решение для внедрения алгоритмов технического зрения и управления непосредственно на ПЛИС. Специалисты смогут использовать ПЛИС для обработки и анализа изображений в режиме реального времени не затрачивая ресурсы центрального процессора.
10.06.2010 | 3561
National Instruments представила высокопроизводительные платы сбора данных со встроенным согласованием в формате PXI Express National Instruments объявила о выходе модулей со встроенными цепями согласования сигналов для высокоточных, многоканальных и масштабируемых измерений на базе платформы PXI Express. Новая линейка модулей NI SC Express обладает повышенной точностью, высокой пропускной способностью данных и лучшими в своем классе возможностями для измерений с датчиков деформаций, термопар и высоковольтного аналогового ввода. Технология PXI Express обеспечивает пропускную способность 250 МБ/сек для каждого модуля SC Express в шасси. Такая пропускная способность позволит увеличивать число каналов в системе, не уменьшая частоту тактирования и точность сбора данных. За счет компактного форм-фактора, удобного подключения кабелей и новых возможностей программного обеспечения для синхронизации, модули SC Express упрощают процесс установки и настройки многоканальных измерительных систем.
14.05.2010 | 2740
Конференция NIWeek 2010 – уникальная возможность знакомства с самыми современными измерительными технологиями Компания National Instruments объявила о планах проведения NIWeek, самой известной в мире конференции по системам графического проектирования и выставке, которая ежегодно собирает более 3300 инженеров, ученых и представителей научного сообщества со всех уголков земного шара. 16-я конференция NIWeek 2010 открывается 3 августа в Austin Convention Center в г. Остин (штат Техас, США). В течение 3-х дней будут проводиться технические саммиты, сессии и презентации, интерактивные демонстрации и выступления руководителей NI. Участники NIWeek 2010 смогут повысить свои технические знания, узнать о применении систем графической разработки приложений для задач тестирования и измерений, а также пообщаться с коллегами и разработчиками компании National Instruments.
05.05.2010 | 3292
National Instruments выступила Официальным партнером Второго Всероссийского робототехнического фестиваля National Instruments приняла участие в качестве официального партнера во Втором всероссийском робототехническом фестивале, одном из крупнейших в России мероприятий в области инновационных технологий, робототехники и мехатроники среди детей и молодежи. NI LabVIEW стала официальной средой разработки Программы «Робототехника: инженерно-технические кадры инновационной России», а NI Single-Board RIO – официальной платформой для систем управления роботами.
02.04.2010 | 3165
Технологии National Instruments на семинаре в Екатеринбурге Компания National Instruments приглашает Вас и Ваших коллег принять участие в бесплатном семинаре «Технологии National Instruments для тестирования и разработки радиоэлектронных комплексов и систем», который пройдет 15 апреля 2010 года в Екатеринбурге в Большом конференц-зале гостиницы "Гранд Авеню Отель".
30.03.2010 | 5002
Быстрое и точное измерение температуры с новым USB-устройством от National Instruments Компания National Instruments представила NI USB-TC01 – USB-устройство автоматического сбора данных для измерения и записи температурных данных с термопары. Новое устройство сочетает быструю и простую настройку с высоким качеством исполнения.
10.03.2010 | 3457
National Instruments представила когерентную систему векторного анализа и генерации ВЧ-сигналов Компания National Instruments представила новые векторные генераторы и анализаторы ВЧ-сигналов в двухканальном, трехканальном и четырех канальном исполнении для разработки и тестирования устройств с большим числом входных и выходных каналов (MIMO).
03.03.2010 | 3255
Компания National Instruments представила новые контроллеры CompactRIO с расширенным диапазоном рабочих температур Компания National Instruments представила два новых промышленных контроллера автоматизации (PACs) CompactRIO, оптимизированных для решения задач высокоскоростных измерений и управления в широком температурном диапазоне (от -40 до +70˚С).
01.03.2010 | 2955
Семинар National Instruments в Москве Компания National Instruments приглашает принять участие в семинаре «Технологии National Instruments для тестирования и разработки радиоэлектронных комплексов и систем». Семинар пройдет 23 марта 2010 года в Москве в гостинице "Салют" по адресу Ленинский пр-т, д.158 (ст.м. "Юго-Западная").
01.03.2010 | 2836
Совместные семинары National Instruments и Tektronix в США Компании National Instruments и Tektronix объявили об открытии регистрации на семинар «Измерительное оборудование и методы анализа при проектировании встраиваемых систем». Семинар будет проводиться в период с 2 марта по 18 мая в 11 городах США. Участие в семинаре бесплатно. Семинар предназначен для инженеров-проектировщиков встраиваемых систем для повышения эффективности процесса проектирования и рассчитан на половину рабочего дня.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
13.06.1831
День рождения
Джеймс Клерк Максвелл
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.