Совместные семинары National Instruments и Tektronix в США

01.03.2010

Компании National Instruments и Tektronix объявили об открытии регистрации на семинар «Измерительное оборудование и методы анализа при проектировании встраиваемых систем» (Measurement and Analysis Techniques for Embedded System Design Engineers). Семинар будет проводиться в период с 2 марта по 18 мая в 11 городах США. Участие в семинаре бесплатно. Семинар предназначен для инженеров-проектировщиков встраиваемых систем для повышения эффективности процесса проектирования и рассчитан на половину рабочего дня.

Основная тема семинара: времясберегающие методики измерений и анализа результатов. Будет рассматриваться использование при проектировании таких инструментов, как осциллографы Tektronix в сочетании с программным обеспечением LabVIEW компании National Instruments.

Семинар состоит из трех сессий, в ходе которых специалисты компаний Tektronix и National Instruments подробно расскажут о методах достижения наибольшей эффективности. Будут рассматриваться следующие темы:

• Усовершенствованные методы осуществления измерений протоколов USB, SPI и I2C.
• Анализ данных эффективности работы и других характеристик для их представления в информативном виде.
• Визуализация данных измерений и формирование отчета.
• Подключение нескольких измерительных приборов к ПК или ноутбуку по протоколам GPIB, USB, PXI или Ethernet/LXI для оптимизации управления приборами и процессом измерений.

Города и даты проведения семинара (США):

• Остин, 2 марта 2010
• Даллас, 4 марта 2010
• Сан-Диего, 23 марта 2010
• Санта-Клара, 25 марта 2010
• Торонто, 13 апреля 2010
• Вашингтон, 20 апреля 2010
• Ньюарк, 27 апреля 2010
• Бостон, 29 апреля 2010
• Орландо, 11 мая 2010
• Феникс, 13 мая 2010
• Портленд, 18 мая 2010

Зарегистрироваться для участия в семинаре можно на сайте: www.nitekseminar.com

National Instruments (www.ni.com)

Tektronix (www.tektronix.com)

О компании: NI