EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Встреча с делегацией Кубы

Встреча с делегацией Кубы

30.05.2015

24 апреля 2015 года состоялась встреча руководства ВНИИМС и ВНИИОФИ с делегацией Республики Куба в составе: Заместитель Министра по науке и технологиям Данило Алонсо Медерос и Фернандо Аззура Родригес, Директор Национальной метрологической службы.

По итогам встречи было принято решение разработать программу двухстороннего сотрудничества в области метрологии между Российской Федерацией и Республикой Куба.

В ходе встречи стороны представили свои организации, обсудили тематику дальнейшего сотрудничества России и Кубы в области метрологии. В завершение кубинскими гостями были осмотрены лаборатории ВНИИМС и ВНИИОФИ, а также Центр метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии.

ФГУП «ВНИИМС»



Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
Тамм Игорь Евгеньевич
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Капица Петр Леонидович
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.