English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(550)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(637)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(90)
Новости Rohde & Schwarz(531)
Новости Tektronix(217)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(116)
Новости Росстандарта(144)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Встреча с делегацией Кубы

Встреча с делегацией Кубы

30.05.2015

24 апреля 2015 года состоялась встреча руководства ВНИИМС и ВНИИОФИ с делегацией Республики Куба в составе: Заместитель Министра по науке и технологиям Данило Алонсо Медерос и Фернандо Аззура Родригес, Директор Национальной метрологической службы.

По итогам встречи было принято решение разработать программу двухстороннего сотрудничества в области метрологии между Российской Федерацией и Республикой Куба.

В ходе встречи стороны представили свои организации, обсудили тематику дальнейшего сотрудничества России и Кубы в области метрологии. В завершение кубинскими гостями были осмотрены лаборатории ВНИИМС и ВНИИОФИ, а также Центр метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии.

ФГУП «ВНИИМС»



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2020
КИПиС 2020 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
08.03.1914
Родился советский физик и физико-химик