English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(558)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(649)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(264)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(544)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(120)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Поверка, освоенная метрологами ФБУ «Ростест-Москва», расширяет возможности применения СИ, изготовленных на платформе PXI, в сфере госрегулирования ОЕИ

Поверка, освоенная метрологами ФБУ «Ростест-Москва», расширяет возможности применения СИ, изготовленных на платформе PXI, в сфере госрегулирования ОЕИ

14.05.2016

В ФБУ «Ростест-Москва» освоена поверка радиотехнических СИ, изготовленных на платформе PXI.

PCI eXtensions for Instrumentation (PXI) - модульная платформа, предназначенная для построения многофункциональных контрольно-измерительных систем, испытательного оборудования для тестирования электроники, систем автоматизации, модульных лабораторных приборов и т.д.

Стандарт модульного измерительного оборудования PXI позволяет решать задачу постоянного увеличения производительности, функциональности и надежности контрольно-измерительной аппаратуры. Данная платформа позволяет легко устанавливать, заменять и использовать разные измерительные устройства в едином компактном исполнении.

Сегодня 68 компаний производят контрольно-измерительное оборудование в стандарте PXI. Освоенная метрологами ФБУ «Ростест-Москва» поверка открывает возможности применения СИ, изготовленных на платформе PXI, в сфере госрегулирования обеспечения единства измерений.

www.rostest.ru



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.