EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Встреча российских и немецких метрологов в Берлине

Встреча российских и немецких метрологов в Берлине

25.09.2016

В период 5-7 сентября 2016 г. Специалисты ФГУП «ВНИИОФИ» приняли участие в рабочей встрече в рамках Программы научного сотрудничества российских и немецких метрологических институтов.

Российскую делегацию возглавил заместитель руководителя Росстандарта, Сергей Голубев, во встрече участвовали: директор ВНИИОФИ Крутиков В.Н. (Президент КООМЕТ), а так же руководители ВНИИМС, ВНИИМ им. Д.И. Менделеева, ВНИИФТРИ. С немецкой стороны - директор национального метрологического института Германии (PTB) И. Ульрих, руководитель берлинского отделения PTB Г. Ульм, и руководители научных подразделений.

Стороны обсудили результаты реализации Программы научного сотрудничества, ее перспективы, а так же актуальные вопросы в области законодательной и прикладной метрологии.

Основной темой для встречи стало рассмотрение хода выполнения работ, выполняемых специалистами ВНИИОФИ совместно с немецкими партнерами из PTB:

  1. Исследование зависимости спектральной излучательной способности реальных объектов;
  2. Разработка и исследование высокотемпературной реперной точки WC-C (3021 К) вольфрам-углеродной перитектики;
  3. Исследование пространственного распределения энергетической яркости синхротронного сгустка накопительного кольца и исследование стабильности и воспроизводимости вторичных эталонных приемников УФ излучения с использованием синхротронного излучения.

По итогам встречи стороны подтвердили намерения дальнейшей реализации программы.

www.vniiofi.ru



Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
Тамм Игорь Евгеньевич
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Капица Петр Леонидович
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.