English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(564)
Новости Anritsu(119)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(653)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(94)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(125)
Новости Росстандарта(149)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

1-я школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Наноматериалы»

1-я школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Наноматериалы»

18.07.2008

В период 27-31 октября 2008 г. в Москве Государственная корпорация «Российская корпорация нанотехнологий» и Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии проведут 1-ую школу «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Наноматериалы».

Целью школы является повышение квалификации специалистов в области метрологии и стандартизации центров коллективного пользования, испытательных центров и лабораторий по направлению наноиндустрии, в том числе являющихся участниками системы добровольной сертификации продукции наноиндустрии «НАНОСЕРТИФИКА». На школе предполагается заслушать лекции ведущих российских и иностранных ученых по перспективным направлениям нанотехнологий, специалистов по метрологии и стандартизации в данной области.
Программа школы будет включать приглашенные обзорные и тематические лекции по актуальным проблемам нанометрологии. Время обзорных лекций - 45 мин., тематических лекций - 15 мин. Также будут представлены презентации современного метрологического и аналитического оборудования для наноиндустрии от ведущих производителей и предложено их обсуждение в режиме круглых столов.

Более подробную информацию информацию можно получить на сайте оганизаторов.



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 2 Июнь 2021
КИПиС 2021 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
21.09.1801
Родился немецкий и русский физик, академик
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.