|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Новые термины в разделе «Метрология» Энциклопедии измерений17.12.2013 Список терминов раздела «Метрология» Энциклопедии измерений продолжает пополняться! Новые определения, представленные в разделе – «Система величин» и «Референтная методика измерений». |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
|