EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Виртуальный измеритель вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов АСС-4211

Для специалистов в различных областях электроники не является секретом, что основные параметры большинства полупроводниковых приборов (ПП) варьируются в достаточно широких пределах от экземпляра к экземпляру даже в рамках одного и того же типономинала и при близких условиях испытаний, не говоря уже об изменении характеристик каждого экземпляра в реальных условиях эксплуатации. Такая нестабильность ПП в процессе их производства и эксплуатации не позволяет без принятия специальных мер обеспечить высокую повторяемость параметров электронных устройств, в составе которых используются полупроводниковые изделия. В данной статье описывается АКТАКОМ АСС-4211 — измеритель статических вольт-амперных характеристик (ВАХ) полупроводниковых приборов в импульсном режиме на основе компьютерной системы сбора данных, предназначенный для измерения и визуализации статических параметров различных полупроводниковых диодов, биполярных и полевых транзисторов малой мощности как с управляющим p-n переходом, так и с одним или двумя изолированными затворами любой проводимости и типа канала.

Автор(ы): Кудреватых Е.Ф.
Номер журнала: КИПиС 2002 № 2
Читать в PDF: Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
Роберт Нортон Нойс
12.12.1843
День рождения
Марсель Депре
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.