Коптева Н.А.

Завершилась 16-я Международная конференция систем графического проектирования NIWeek 2010, которая ежегодно проводится компанией National Instruments. Конференция и выставка состоялись с 3 по 5 августа 2010 г. в выставочном центре Austin Convention Center (г.Остин, штат Техас, США). Из краткого обзора Вы сможете узнать об основных темах докладов и наиболее выдающихся разработках и технологиях, представленных в рамках мероприятия. В этом году NIWeek посетили более 3000 специалистов.

3 июня 2010 года состоялось торжественное событие, посвященное знаменательной дате — юбилею известной российской торговой марки АКТАКОМ. Уже 10 лет продукция под этой торговой маркой занимает уверенные позиции на российском рынке контрольно-измерительного оборудования.

В статье приведен краткий обзор двух наиболее важных для метрологов мероприятий: 6-ой Международной выставки-конкурса средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования «Метрология-2010» и 2-го Московского Международного симпозиума метрологов, посвященных Всемирному Дню метрологии.

25 марта 2010 года в Академии народного хозяйства при Правительстве Российской Федерации состоялась Международная конференция «Техрегулирование 2012. Инструментарий формирования единого экономического пространства». Цель проведения конференции — содействие формированию Единого экономического пространства Республики Беларусь, Республики Казахстан и Российской Федерации, а также обмен опытом в интеграционных процессах по созданию общего экономического пространства в Европейском Союзе.