![]() |
![]() |
|
![]() |
![]() |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на рассылку
|
NIWeek 2010 — эффективность инноваций с инструментами проектирования National InstrumentsЗавершилась 16-я Международная конференция систем графического проектирования NIWeek 2010, которая ежегодно проводится компанией National Instruments. Конференция и выставка состоялись с 3 по 5 августа 2010 г. в выставочном центре Austin Convention Center (г.Остин, штат Техас, США). Из краткого обзора Вы сможете узнать об основных темах докладов и наиболее выдающихся разработках и технологиях, представленных в рамках мероприятия. В этом году NIWeek посетили более 3000 специалистов. Автор(ы): Афонская Т.Д. / Афонский А.А. / Коптева Н.А. Номер журнала: КИПиС 2010 № 5 Читать в PDF: Читать Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Свежий номер
События из истории измерений
27.02.1932
|
|
|
© "Контрольно-измерительные приборы и системы" ("КИПиС"), 1996-2021. Все права защищены. Политика конфиденциальности | |