EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

NIWeek 2010 — эффективность инноваций с инструментами проектирования National Instruments

Завершилась 16-я Международная конференция систем графического проектирования NIWeek 2010, которая ежегодно проводится компанией National Instruments. Конференция и выставка состоялись с 3 по 5 августа 2010 г. в выставочном центре Austin Convention Center (г.Остин, штат Техас, США).

Из краткого обзора Вы сможете узнать об основных темах докладов и наиболее выдающихся разработках и технологиях, представленных в рамках мероприятия. В этом году NIWeek посетили более 3000 специалистов.


Автор(ы): Афонская Т.Д., Афонский А.А., Коптева Н.А.
Номер журнала: КИПиС 2010 № 5
Читать в PDF: Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.